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      卤化物钙钛矿被认为是用于直接X射线探测器的极具前景的光电子材料，但要实现大面积平板成像，需要解决钙钛矿和读出电路板之间的电子、表面和机械性能的兼容性问题。鉴于此，2024年9月30日北京大学深圳研究生院王新炜&杨世和于AFM刊发晶体取向控制增强钙钛矿与大面积读出板的附着力，实现高性能X射线成像的研究成果，选择低维MA3Bi2I9钙钛矿，通过利用钙钛矿薄膜生长的取向控制策略，在两者之间实现良好的平衡。取向控制生长最显著的结果是厚钙钛矿薄膜在大面积电子板上具有出色的附着力，并有效解决了电荷共享效应，而这一直很难实现。最终的探测器的X射线成像面积为2.8×3.2 cm²，空间分辨率为4.0 lp mm⁻¹，这是基于TFT背板的多晶钙钛矿探测器迄今为止达到的最高分辨率，灵敏度为588 µC Gy_air⁻¹cm⁻²，同时保持暗电流低于10 nA cm^-2，这也是迄今为止多晶零维钙钛矿探测器的最高值。该装置清晰地揭示了生物标本和工业产品复杂的内部结构。这一结果展示了零维钙钛矿在X射线平面成像中的潜力，并强调了取向控制策略的关键作用。